题目内容
（请给出正确答案）
[单选题]
交接班时，上芯需要（)在设备上故意放反一条框架来检测设备防反功能是否有效。
A.操作员
B.物料员
C.生产组长
D.领班
答案
查看答案
重要提示：请勿将账号共享给其他人使用，违者账号将被封禁！
查看《购买须知》>>>
请输入或粘贴题目内容
搜题
拍照、语音搜题，请扫码下载APP
题目内容
（请给出正确答案）
A.操作员
B.物料员
C.生产组长
D.领班
答案
更多“交接班时，上芯需要()在设备上故意放反一条框架来检测设备防反功能是否有效。”相关的问题
第4题
A.配线设备交叉连接的跳线应选用综合布线专用的插接软跳线，在电话应用时也可选用双芯跳线
B.配线电缆可选用普通的综合布线铜芯双绞电缆，在必要时应选用阻燃、低烟、低毒等电缆
C.配线子系统应采用4对双绞电缆，在需要时也可采用光缆，配线子系统根据整个综合布线系统的要求，应在交接间或设备间的配线设备上进行连接
D.信息插座应采用6位模块式通用插座或光缆插座
第5题
A.交班人员应向接班人员介绍设备运行情况，接班人员阅读运行日志及有关记录，熟悉上一班情况
B.交接班人员共同巡视设备，检查信号装置和安全设施是否良好完备
C.检查工具、仪表、安全用具、备品等是否完备
D.掌握系统负荷、供电质量，分析运行中的问题，提出改进意见
第6题
A.配片员从划片接收产品后
B.产品配发到设备上后作业员接收
C.产品配发到设备后配片员接收
D.作业员加工一张卡后录入ERP时接收
第9题
A.上芯顶针痕迹检查频次为1次
B.在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取
C.在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格
D.MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良
